本文標題:顯微觀察時對垂直一個光軸切片的干涉圖的檢測
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-9-23 11:27:48
顯微觀察時對垂直一個光軸切片的干涉圖的檢測
通常情況下我們通過所使用的檢測垂直一個光軸切片的
二軸晶體物質的干涉圖與斜交光軸切片與平行光軸面切
片的二軸晶體物質的干涉圖。
而對于斜交光軸切片二軸晶體物質的干涉圖則是一種比
較最常見到的檢測晶體物質垂直于光軸切片的現象。
同時對于二軸平行光軸面切片的圖像或是與一軸平行光
軸的切片則是一個相交的干涉圖像，這樣可以直接分辨
出視域區域。
而對于垂直一個光軸切片的物像成像則是一個相當于垂
直于切片一半的干涉圖，它是與偏光顯微鏡中的上或是
下偏振動方向是平行的才行。
將本頁加入收藏
下一篇：碳纖維鞘芯結構的偏光顯微鏡檢測法
上一篇：如何進行放大照片的顯影步驟
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.yybbc.cn/xinwen/1840.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
