本文標(biāo)題:如何使用正交偏光下鑒定晶體光學(xué)性質(zhì)

如何使用正交偏光下鑒定晶體光學(xué)性質(zhì)

對(duì)于偏光顯微鏡來(lái)說(shuō)，它主要是由機(jī)械部件與光學(xué)部件
以及照明系統(tǒng)組合而成的。

我們?cè)谑褂闷�光顯微鏡進(jìn)行鑒定物質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)，則主
要是用來(lái)對(duì)單偏光或是正交偏光以及錐光進(jìn)行分析的一
種光學(xué)分析系統(tǒng)。

偏光顯微鏡上的物鏡則是由一到五組復(fù)式透鏡組成的，
我們把下端的透鏡稱為前透鏡，而上面的則稱為后透鏡。

同時(shí)是不能夠使用偏光顯微鏡中的錐光鏡與上偏光鏡的
，這樣我們所檢測(cè)出的晶體物質(zhì)的形貌特征，就是檢測(cè)
出晶體的形態(tài)與晶體顆粒的大小情況。

而通常我們?cè)谑褂闷�光顯微鏡進(jìn)行顯微觀察檢測(cè)時(shí)，會(huì)
有三到七個(gè)不同的放大倍數(shù)的物鏡進(jìn)行選擇，因此放大
位數(shù)越大則數(shù)值孔徑就越大分辨率就越高。

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