本文標題:透射電子顯微鏡相襯技術
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2014-9-3 17:05:50
透射電子顯微鏡相襯技術
透射電子顯微鏡相襯技術晶體結構可以通過觀察檢測出來測
量高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種觀察檢測出來測量
技術也被稱為相襯顯微技術。
透射電子顯微鏡相襯技術觀察檢測出來測量當使用場發射電
子源的時候，觀測觀察檢測出來測量圖像通過由電子與觀察
檢測出來測量樣品相互作用導致的電子波相位的差別重構得
出。
透射電子顯微鏡相襯技術觀察檢測出來測量然而由于圖像還
依賴于射在屏幕上的電子的數量，觀察檢測出來測量對相襯
圖像的識別更加復雜。
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